Каталог
Описание
Характеристики
Файлы
Функции S540
- Автоматическое проведение всех параметрических тестов на уровне пластины с использованием до 48 контактов, в том числе измерений высокого напряжения пробоя, емкости и низковольтных измерений в одно касание пробника без замены кабелей или инфраструктуры зондовой платы
- Проведение измерений емкости транзистора (Ciss, Coss и Crss) до 3 кВ без изменения конфигурации контрольных контактов вручную
- Обеспечение эффективности измерений низкого уровня в высокоскоростной, многоконтактной, полностью автоматизированной тестовой среде
- Системное программное обеспечение Keithley Test Environment (KTE) на базе Linux обеспечивает удобную разработку тестов и быструю их реализацию
- Идеально подходит для полностью или наполовину автоматизированных приложений, применяемых в интеграции процессов, мониторинге технологических процессов и промышленной сортировке кристаллов
- Снижение стоимости владения за счет минимизации времени тестирования, времени настройки для испытания и занимаемой площади при обеспечении производительности измерений лабораторного класса