Каталог

Keithley ACS

цена по запросу
шт.

ACS — это гибкая, интерактивная программная среда для тестирования, разработанная для характеризации полупроводниковых устройств, проверки надежности, параметрического и функционального тестирования компонентов. ACS поддерживает широкий диапазон приборов Keithley, а также системы S500 и S530. Исключительная гибкость тестирования и анализа, интуитивный графический интерфейс позволяют начинающим пользователям приобрести навыки работы практически мгновенно. Интуитивный графический интерфейс пользователя упрощает разработку плана тестирования, проведение испытаний и анализ результатов Разработка и проведение испытаний на уровне устройства, площадки, пластины и кассеты Поддержка широкого диапазона конфигураций приборов и систем, включая параллельное тестирование с несколькими источниками-измерителями Полное управление полуавтоматическими и полностью автоматическими зондовыми станциями Интерактивное и оперативное графическое отображение данных

Описание Характеристики Файлы

Что такое ACS?

ACS — это мощное программное обеспечение, предназначенное для инженеров, выполняющих различные испытания для всесторонней характеризации полупроводниковых устройств. Используйте ACS с широким ассортиментом ведущих в отрасли источников-измерителей компании Keithley. Автоматизация тестирования на уровне пластины или кассеты с возможностью управления автоматическими зондовыми станциями при помощи стандартной версии ACS. Для ручного тестирования или проверки одного устройства используется базовая версия ПО ACS Basic Edition. Для расширенного тестирования надежности нескольких проверяемых устройств на уровне пластины (WLR) используется стандартная версия ACS с опцией ACS-2600-RTM.  Узнать больше о различных областях применения, оборудовании для измерений и возможностях ACS!

Определение параметров компонентов

Создание и управление всесторонними испытаниями и результатами измерений для отдельных полупроводниковых компонентов, таких как полевые МОП-транзисторы, биполярные транзисторы, диоды, биполярные транзисторы с изолированным затвором высокой мощности и т. п.

Программное обеспечение ACS

ACS поддерживает широкий диапазон полуавтоматических и полностью автоматических зондовых станций для измерений характеристик полупроводниковых компонентов на всей пластине. Или интерактивное управление зондовой станцией для тестирования отдельных устройств. Мониторинг процесса тестирования с получением результатов для отдельного устройства и статистики для нескольких устройств во время работы.

Базовое программное обеспечение ACS Basic Edition

Базовая версия ПО ACS Basic Edition в основном предназначена для тестирования полупроводниковых компонентов с использованием ручной измерительной станции или тестовой оснастки. Выполните начальное определение характеристик устройства быстро и интерактивно в режиме «Trace Mode» (режим характериографа). Или создайте тесты для полной экстракции параметров устройства, используя экран настройки на базе графического пользовательского интерфейса и обширных библиотек измерений. Базовая версия ПО ACS Basic обеспечивает получение результатов в реальном времени для анализа при помощи встроенных инструментов или для экспорта в другие автономные модули анализа.

Системные источники-измерители (SMU) SourceMeter ® серии 2600B

Источники-измерители SourceMeter серии 2600B включают двухканальные блоки, наилучшим образом подходящие для тестирования полупроводниковых устройств с несколькими выводами, таких как полевые МОП-транзисторы и биполярные транзисторы. Интерфейс TSP-Link® компании Keithley обеспечивает согласованное управление и точную синхронизацию нескольких источников-измерителей. Широкий ассортимент моделей серии 2600 позволяет обеспечить соответствие различным требованиям к напряжению и току.

Системные источники-измерители (SMU) SourceMeter высокой мощности серии 2650A

Источники-измерители (SMU) SourceMeter высокой мощности серии 2650A могут быть использованы в различных тестовых конфигурациях. Генерация и измерение импульсных сигналов 3 кВ или 50 А мощностью до 2 000 Вт или 200 Вт постоянного тока. Лучшие в своем классе характеристики обеспечивают непревзойденные возможности по измерению токов утечек. Использование интерфейса TSP-Link® компании Keithley для создания интегрированных систем из источников-измерителей SourceMeter (SMU) серии 2600B малой мощности.

Конфигурации PCT

Конфигурации характериографов компании Keithley — это комплексные решения для характеризации мощных устройств, включающие высокопроизводительные приборы, кабели, тестовую оснастку и программное обеспечение. Существует шесть конфигураций, в каждой из которых имеется режим отслеживания в реальном времени для быстрой проверки основных параметров устройства, таких как напряжение пробоя, и полный параметрический режим для получения точных характеристик устройства.

Параметрический анализатор 4200-SCS

Использование источника-измерителя 200 В / 1 А и модуля измерений вольт-фарадных характеристик 400 В, имеющихся в параметрическом анализаторе 4200-SCS, — это идеальный способ определения характеристик полупроводниковых компонентов. Использование 4200-SCS совместно с источником-измерителем высокой мощности серии 2650A для тестирования устройств до 3 кВ или 50 А. Создание и проведение испытаний во всем этом диапазоне возможностей приборов Keithley при помощи базовой версии ПО ACS Basic Edition.

Комплексные параметрические тестеры S500

Откройте готовые, полные решения Keithley на базе систем параметрического тестирования S500. Эти конфигурируемые системы обеспечивают широкий диапазон возможностей измерений для испытательных установок с использованием современных технологий. Используйте ПО ACS с системами S500 для обеспечения высокопроизводительного тестирования нескольких устройств при помощи автоматических зондовых станций для проверки устройств на уровне пластины.

Модель Описание
ACS

ACS поддерживает широкий диапазон полуавтоматических и полностью автоматических зондовых станций для измерений характеристик полупроводниковых устройств на всей пластине. Или интерактивное управление зондовой станцией для тестирования отдельных устройств. Мониторинг процесса тестирования с получением результатов для отдельного устройства и статистики для нескольких устройств во время работы.

Связанные приборы