Каталог
Параметрическое тестирование импульсных вольт-амперных характеристик (ВАХ) становится обычным требованием при разработке технологий производства полупроводниковых приборов и контроле полупроводниковых устройств. В последние годы вследствие появления более совершенных технологий потребность в прецизионных измерениях импульсных ВАХ существенно возросла. Для удовлетворения этих потребностей компания Keysight предлагает целый ряд решений для параметрического тестирования импульсных ВАХ, которые обеспечивают широкий диапазон выходного напряжения/тока, длительности импульсов и производительности.
Решение для параметрического тестирования импульсных ВАХ Keysight B1542A позволяет генерировать импульсы с длительностью от 10 нс до 1 мс. Это устройство является оптимальным выбором для определения характеристик полевых МОП-транзисторов с высоким удельным сопротивлением диэлектрика затвора и полевых МОП-транзисторов, выполненных по технологии «кремний на диэлектрике» (КНД). Решение B1542A позволяет генерировать импульсы с минимальной длительностью 10 нс и длительностью фронта/среза 2 нс (лучшие в отрасли показатели) с минимальными выбросами после фронта и среза.
Решение для параметрического тестирования импульсных ВАХ B1542A включает параметрический анализатор (Keysight B1500A, E5260A/E5270B, 4155C 4156C, 4155B или 4156B), а также кабели, принадлежности и программное обеспечение. Если у пользователя уже имеются поддерживаемые решением B1542A генераторы импульсов и осциллографы Keysight, он может использовать их для снижения общей стоимости решения.
Более подробная информация о решении B1542A и поддерживаемых им генераторах импульсов и осциллографах:
Другие решения для импульсных измерений:
- Руководство по выбору решений для измерений импульсных ВАХ
- Модуль генератора сигналов и быстродействующего измерителя (WGFMU)
- Модуль высоковольтного генератора импульсов для полупроводников B1525A (HV-SPGU)
Более подробная информация об областях применения анализатора B1500A.
"