Каталог

Keithley 4200A-SCS

цена по запросу
шт.

Анализатор 4200A-SCS позволяет ускорить разработку процессов производства, исследования, а также анализ надёжности и отказов полупроводниковых приборов и материалов. Этот параметрический анализатор демонстрирует непревзойдённую производительность, одновременно выполняя измерения ВАХ (I-V), вольт-фарадных характеристик и сверхбыстрые измерения импульсных ВАХ.

Описание Характеристики Файлы

Параметрический анализ, быстрый и понятный.

 

Подключение к новейшим разработкам ещё никогда не было таким простым. Параметрический анализатор 4200A-SCS существенно снижает сложность определения характеристик и вдвое сокращает длительность настройки тестирования, предоставляя проверенные и понятные инструменты для измерений и анализа. К этому необходимо добавить интегрированный в прибор опыт измерений — впервые в отрасли в прибор встроено руководство по тестированию, обеспечивающее надёжность получаемых результатов.

Основные преимущества

  • Встроенное видеоруководство по измерениям на английском, китайском, японском и корейском языке
  • Мгновенная подготовка к тестированию при помощи сотен подстраиваемых под требования пользователя тестовых программ
  • Автоматизированное отображение параметров в режиме реального времени, графики данных, арифметические функции

Измерение. Переключение. И возврат.

 

Модуль Multi-Switch анализатора 4200A-CVIV автоматически переключает измерения I-V на C-V без переключения измерительных проводов или замены наконечников пробников. В отличие от аналогичных приборов, выпускаемых конкурентами, на дисплей четырёхканального прибора 4200A-CVIV выводится визуальная информация, помогающая быстро настроить тестирование и легко найти неполадки при появлении неожидаемых результатов.

Основные преимущества

  • Переход на измерения C-V на любом выводе прибора без переключения измерительных проводов
  • Адаптируемая под требования пользователя функция измерения низких токов
  • Переименование выходных каналов
  • Просмотр статуса тестирования в режиме реального времени

Характеристики. Адаптация под заказчика. Максимум испытаний.

 

Анализатор 4200A-SCS — это полностью обновляемый и полностью настраиваемый под требования заказчика прибор, позволяющий определять электрические характеристики и оценку полупроводниковых приборов, новых материалов, активных/пассивных компонентов, надёжность подложки, анализировать неполадки, электрохимические показатели или практически любые образцы.

Основные преимущества

  • Тестирование NBTI/PBTI (температурной нестабильности при отрицательном/положительном смещении)
  • Измерение случайного телеграфного шума
  • Тестирование устройств с энергонезависимой памятью
  • Тесты с применением потенциостата

Комплексное решение с применением испытательных устройств и контроллеров, работающих при криогенных температурах.

 

Параметрический анализатор 4200A-SCS может работать совместно с рядом ручных и полуавтоматических устройств для испытаний схем на полупроводниковой пластине и контроллерами, работающими при криогенных температурах, такими как Cascade MicroTech, Lucas Labs/Signatone, MicroManipulator, Wentworth Laboratories, MicroManipulator, LakeShore модель 336.

Основные преимущества

  • Простота тестирования — нужно только «указать и щёлкнуть»
  • Режим ручного тестирования с функциями автоматического
  • Режим отключения пробника позволяет выполнять отладку без удавления команд пробника

Области применения

Надёжность полупроводниковых приборов

 

Анализатор 4200A-SCS позволяет выполнять комплексное тестирование надёжности без необходимости сложного кодирования. Встроенные в прибор планы тестирования, такие как оценка деградации горячих носителей (HCI), покрывают основные требования к анализу устройств.

Основные преимущества

  • Измерения ВАХ постоянного тока, ВФХ и импульсных характеристик в одном наборе тестов
  • Поддержка многих измерительных станций и внешних приборов
  • Простая в использовании система контроля циклов позволяет выполнять повторные измерения без кодирования

Измерения вольт-фарадных характеристик высокоимпедансных устройств

 

Технология Keithley для измерений ВФХ при очень низких частотах, адаптируемая под требования заказчиков, предназначена для анализа ёмкости высокоимпедансных образцов. Обычно измерения выполняются только при помощи анализаторов и источников-измерителей, но для более высоких частот может также понадобиться модуль 4210-CVU.

Основные преимущества
  • Диапазон частот от 0,01 до 10 Гц, чувствительность от 1 пФ до 10 нФ
  • Стандартное разрешение 3½ разряда, минимальная ёмкость 10 фФ

Энергонезависимая память

 

При тестировании новых разработок может понадобиться точное определение импульсных вольт-амперных характеристик. В анализаторе 4200A-SCS предусмотрена поддержка и готовые тесты для устройств энергонезависимой памяти (NVRAM) — от ячеек флеш-памяти с плавающим затвором до резистивной и ферроэлектрической памяти с произвольным доступом (ReRAM и FeRAM). Возможность одновременной работы прибора в режиме источника и измерителя тока и напряжения позволяет определять характеристики переходных процессов и ВАХ.

Тестирование лазеров поверхностного излучения с вертикальным резонатором (VCSEL)

 

При помощи нескольких согласованных источников-измерителей (SMU), установленных в анализаторе 4200A-SCS, можно существенно упростить тестирование лазерных диодов. Характеристики LIV (интенсивность света, ток, напряжение) определяются при подключении только к одному блоку. Поддержка усовершенствованной измерительной станции и переключения блоков означает, что при помощи одного и того же прибора можно выполнять заводские испытания отдельных диодов или всей матрицы на стадии пластины. В анализатор можно установить источники-измерители мощностью до 21 Вт для анализа множества гармонических сигналов (CW) лазерных диодов VCSEL разного назначения.

Определение характеристик наноразмерных устройств

 

Благодаря блочной архитектуре, анализатор 4200A-SCS может упростить требования к измерениям в быстро развивающейся наноэлектронике, в частности к тестированию углеродных нанотрубок. Исследования нужно начинать с предварительно заданного плана тестирования и на его основе расширять измерения. Импульсный режим работы источников-измерителей (SMU), решающий проблему перегрева, можно использовать для секундных измерений ВПФ при низком напряжении и сверхбыстрых импульсных ВАХ.

Удельное сопротивление материалов

 

При помощи анализатора 4200A-SCS со встроенными источниками-измерителями (SMU) можно намного проще измерять удельное сопротивление, используя четырёхзондовый метод измерения двумерного сопротивления или метод ван дер Пау. Встроенные в прибор тесты автоматически запускают повторяемые расчёты ван дер Пау, сокращая затраты времени при разработке. Максимальное разрешение по току 10 аА и входной импеданс больше 10­­­­16 Ом обеспечивают более точные и достоверные результаты.

Определение характеристик полевых МОП-транзисторов

 

В анализатор 4200A-SCS можно встроить все приборы, необходимые для определения всех характеристик МОП-структур путём тестирования отдельных элементов или пластины. Встроенные в прибор тесты и планы тестирования помогают определить толщину оксидного слоя МОП-конденсатора, пороговые напряжения, концентрацию примесей, концентрацию подвижных ионов и другие характеристики. Все эти тесты запускаются простым нажатием кнопки на одном приборе.

Связанные приборы

Спасибо за заявку
Ожидайте нашего звонка.