Каталог

Keysight E4991B Анализатор импеданса, от 1 МГц до 500 МГц / 1 ГГц / 3 ГГц

0 руб.
шт.

E4991B Анализатор импеданса, от 1 МГц до 500 МГц / 1 ГГц / 3 ГГц

Описание Характеристики Файлы
"

Анализатор импеданса Keysight E4991B имеет диапазон частот испытательного сигнала от 1 МГц до 3 ГГц. Благодаря встроенному источнику постоянного напряжения смещения до 40 В (опция 001) прибор обеспечивает основную погрешность измерений на уровне 0,65% в широком диапазоне значений импеданса. Функция анализа эквивалентных схем поддерживает семь различных многопараметрических моделей и позволяет моделировать собственные значения эквивалентных параметров компонентов.

Три опции (с диапазоном частот от 1 МГц до 500 МГц / 1 ГГц / 3 ГГц) и возможность расширения диапазона частот испытательного сигнала позволяют выбрать оптимальную конфигурацию для решения задач испытаний.

Опции измерений параметров материалов позволяют выполнять анализ температурных характеристик (опция 007), а также определять значения диэлектрической проницаемости и магнитной проницаемости (опция 002).

Комплект для подключения к зондовой станции (опция 010) позволяет создать систему для точных измерений импеданса на пластине и параметров микрокомпонентов в диапазоне частот до 3 ГГц.

Анализатор E4991B поддерживает широкий круг принадлежностей, которые позволяют упростить процесс тестирования и повысить точность и надежность измерений.

Анализатор импеданса Keys ight E4991B идеально подходит для определения характеристик и тестирования электронных компонентов, полупроводниковых устройств и материалов в процессе разработки, производства, аттестации и контроля качества готовых изделий.

Примеры использования

  • Пассивные компоненты: измерение импеданса бескорпусных компонентов, например, конденсаторов, катушек индуктивности, ферритовых фильтров, резисторов, кварцевых или пьезокерамических резонаторов
  • Полупроводниковые компоненты: анализ вольт-амперных характеристик и измерение эквивалентного последовательного сопротивления параметрических диодов
  • Диэлектрические материалы: измерение диэлектрической проницаемости и тангенса угла потерь полимерных материалов, керамики, а также печатных плат
  • Магнитные материалы: измерение магнитной проницаемости и тангенса угла потерь ферритов и аморфных магнетиков и других магнитных материалов
"

Связанные приборы